緊急報告！　BX133-RAID の　１Ｇ　相性問題

　近頃　究極の４４０ＢＸ　と言われる　abit　ＢＸ１３３−ＲＡＩＤですが　１ＧのＣＰＵをオーバークロックさせたときに　おおむね　１．２Ｇ以上で　ブラックアウトする現象が起きております。
この問題について　様々な　実験を行いました。

１）　Vcore　外部依存実験−−−−＞　定格動作は問題ないのですが　許容電流が足りずに　玉砕・・
２）　Vcore　生成部の部品調査−−＞　ボードによって　Vcore生成部のＦＥＴメーカーが異なることを発見
３）　定格温度で　Over　Clockすると　ｖｃｏｒｅ生成用の　ＦＥＴが死亡する時がある

等　いろいろな観察の中で　まくさん　にご協力いただき　ある改造を思いつきました。

Vcore　生成部に　ＲＣ５０５８Ｍという　ICが使われておりますが　このIC　の　１７番ピンに　「ＰＷＲＧＤ」　と言う端子があります。これが　検出して　異常を知らせて　保護のため　リセットがかかるのではないかという考察です。

早速実験を行ってみました。

Vcore乗っ取りをした　ＢＸ１３３−ＲＡＩＤの基板上の　０オームの抵抗　「ＸＲ５」を外してみました。　回路的には　オープンコレクター出力ですので　オンで　ＬＯＷですので　外すと　何があっても　ここのロジックレベルは　　High　になります。

実験結果ですが　こちらでは　見事に　リセットしなくなりました！

トップオーバークロッカーさん　にも　聞かれまして　実験されたようですが　成功されているようです。
私も含め　偶然に　リセット解除できるのか　それとも　全てのマザーでうまくいくのかの判断は　多くの情報が集まり次第判明すると思われます。

今のところ　私の実験結果と言うことで　ご理解をお願いいたします。
 
 
 

弊害ですが　この抵抗を外すと　リセットがかからなくなる　と言うことは　保護の観点から言うと非常に危険な行為です。
Vcore生成部のＦＥＴは　High側とGNDに２個直列に配置されていて　その分圧比で出力電圧をコントロールしているようですが、GNDに近い方のＦＥＴがオープンモードで壊れると　高電圧がそのまま　ＣＰＵに流れ込むようです。
その場合　一瞬にして　ＣＰＵは破壊してしまいます。

対策としては
１，　常温では実験しない
２，Vcore生成部のＦＥＴを冷却する（放熱版等）
３，ＦＥＴの温度監視をして　高温時には　実験を中断する

等の注意が必要です。

実際　常温で実験をした場合　ＦＥＴが破壊しました。